Detección de capacitores de tantalio de montaje superficial con conexiones marginales
DOI:
https://doi.org/10.33064/iycuaa2015643593Resumen
Los capacitores de tantalio de montaje superficial forman parte de una gran variedad de dispositivos electrónicos de uso masivo, como lo son los teléfonos móviles, televisores, tarjetas electrónicas, entre otros. Pueden presentar conexión marginal entre
las uniones de sus elementos internos, lo que puede derivar en un mal funcionamiento o deterioro del dispositivo electrónico. En el presente trabajo se muestra un sistema capaz de detectar, de manera eficiente y eficaz, capacitores que presenten conexión marginal en diferentes porcentajes. Los resultados experimentales demuestran que es posible detectar conexiones marginales mediante la medición de temperatura en las terminales del capacitor operando bajo condiciones de estrés eléctrico.
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• BHARGAVA, C. et al. Failure Prediction and Health Prognostics of Electronic Components: A Review. Proceedings of the 2014
Recent Advances in Engineering and Computational Sciences (RAECS), 1-5, 2014.
• ENRÍQUEZ HARPER, G. Fundamentos de electricidad, dispositivos y circuitos en corriente continua. Editorial Limusa, 1990.
• FRITZLER, T. et al. Scintillation Conditioning of Tantalum Capacitors With Manganese Dioxide Cathodes. IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, 14(2): 630-638, 2014.
• GILL, J. Basic Tantalum Capacitor Technology. Paignton, England: AVX Ltd., Tantalum Division, 2012.
• HAHN, R. y PAULSEN, J. Low-Impedance Ta Capacitors to Serve the Needs of the Electronics Industry. 20th Passive Components Symposium; CARTS-EUROPE 2006, CARTS EUROPE, 20: 129-138, 2006.
• KIM, Y. et al. Nonlinear Phenomena in Multiferroic Nanocapacitors: Joule Heating and Electromechanical Effects. ACS Nano, 5(11): 9104-9112, 2011.
• NISHINO, A. Capacitors: Operating Principles, Current Market and Technical Trends. Journal of Power Sources, 60: 137-147, 1996.
• VASINA, P. et al. Failure Modes of Tantalum Capacitor Made from Different Technologies. Microelectronics Reliability, 42(6): 849-854, 2002.
• VIRKKI, J. et al. Accelerated Testing for Failures of Tantalum Capacitors. Microelectronics Reliability, 50: 217-219, 2010.
De páginas electrónicas
• QAZI, J. An Overview of Failure Analysis of Tantalum Capacitors. Electronic Device Failure Analysis, ASM International, 16(2): 18-23, 2014. Recuperado de http://www.kemet.com/Lists/TechnicalArticles/Attachments/199/2014%20EDFA%20Tantalum%20Cap%20Failure%20Analysis%20Review%20by%20Javaid%20Qazi.pdf
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